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在特定企业硬盘上,记录的读取和验证 ECC 错误的 SMART 错误率过高

摘要: 某些企业硬盘上的高 SMART 错误率仅供参考,与硬件运行状况无关。

本文适用于   本文不适用于 

症状

原因

解决方案

目录

1.简介
2.描述
3.解决方案
4.更多信息

 


简介

S.M.A.R.T. (自我监控、分析和报告技术;通常写作 SMART)是一种国际标准化的硬盘和固态硬盘运行状况监控系统。

SMART 的主要功能是检测和报告驱动器可靠性的各种指标,旨在预测即将发生的硬件故障,以便用户可以在故障之前更换硬件并维持数据的完整性。

Dell EMC 已与我们的硬盘供应商合作来解释这些值。

 


描述

我们发现,在查看某些企业硬盘的 SMART 状态时,可能会在某些型号上观察到较高的读取和验证 ECC(错误纠正代码)更正率。如果将这些值与其它硬盘进行比较,可能会显示某些特定型号的硬盘的错误率比其它硬盘(可能报告零 ECC 更正)的高得多。在某些情况下,此错误率将显示为数亿 ECC 更正,并可能在更多 I/O 事务发生时迅速增加。

 

下面提供了此情况的示例。此示例是通过在 Linux 操作系统中运行命令“smartctl -a /dev/sdX”收集的。
SLN316623_en_US__1image(9511)
图 1:错误计数器日志

SLN316623_en_US__2icon 提醒:Smartctl 应用程序是用于查询物理磁盘运行状况的开源工具组 smartmontools 的组件。
SLN316623_en_US__2icon 提醒:企业硬盘提供并由第三方实用程序(如 smartmontools)解释的 SMART 日志可能不代表设备 ECC 错误的实际数量。


 


解决方案


SMART 规范使供应商能够提供这些计数器,例如以上示例中所示,以供参考。计数器不一定是 ECC 逻辑中的软或硬故障数。这使每个驱动器供应商都可以灵活地选择在可用 SMART 字段中显示的内容。对于某些供应商,ECC 读取或验证类别中未显示任何错误数据。在上面的示例中,供应商已选择使用计数器来监控 ECC 功能。显示的值不代表错误率。类似地,某些磁盘事件率高于其它磁盘并不表示存在性能问题。
 
SLN316623_en_US__2icon 注:不应在供应商或型号的混合安装基础上对 SMART 参数进行比较;仅应比较类似的型号和固件。

如果您有与特定型号企业硬盘的运行状况计数器相关的特定疑问,请联系我们的支持技术人员,他们可以从 Dell EMC 的工程团队获得答案。

 


更多信息

  • 有关 SMART 值和其它 SCSI 存储接口的国际标准化的更多信息,请访问此处,查阅 T10 技术委员会主页。
  • Smartmontools 是一组实用程序,可使用内置在大多数现代 ATA、串行 ATA、SCSI/SAS 和 NVMe 硬盘中的自我监控、分析和报告技术系统来控制和监控计算机存储系统。它不是 DellEMC 工具。有关 Smartmontools 的更多信息,请访问此处


 


 

 

受影响的产品

PowerEdge, C Series, PowerVault, Legacy Storage Models
文章属性
文章编号: 000147878
文章类型: Solution
上次修改时间: 08 10月 2021
版本:  4
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